Ciclo de Minicursos de Cristalografia

Minicursos

Ciclo de Minicursos de Cristalografia

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Refinamentos sequenciais e paramétricos com o Método de Rietveld (RSP e MR)

A parametrização é normalmente usada para estudos de diagramas de fases. O uso do método de Rietveld com o Topas é interessante, pois permite refinar parâmetros cristalográficos em função de parâmetros não cristalográficos como temperatura ou umidade. Para isso, análises in situ são necessárias. Fornos que permitem o controle de temperaturas abaixo de zero até altas temperaturas são encontrados em muitos laboratórios, e a aplicação dos refinamentos paramétricos poderão resultar em trabalhos mais impactantes.

  • Data: de 25 a 28 de julho de 2016
  • Carga horária: 32 horas
  • Local: IFSC-USP - São Carlos/SP
  • Vagas: 27
  • Inscrições: de 10 de março a 18 de julho de 2016 (Inscrições abertas)
  • Investimento: R$ 150,00

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Determinação de Estrutura com dados DRX por pó e método de Rietveld (SDPD e MR)

Para a aplicação do método de Rietveld é necessário que a estrutura cristalina seja conhecida. O conhecimento da estrutura cristalina é importante para o estudo das propriedades dos materiais, sejam orgânicos ou inorgânicos. Nesse curso será abordado a determinação de estruturas cristalinas através do método de simulated annealing, com compostos inorgânicos e orgânicos, e o subsequente refinamento através do método de Rietveld. Será usado o software Topas da Bruker. O editor de corpo rígido do Topas será usado abundantemente no curso. Embora o método de Rietveld também seja abordado, ele será focado apenas nos refinamentos da estrutura cristalina que foi determinada.

  • Data: de 4 a 8 de julho de 2016
  • Carga horária: 40 horas
  • Local: IQSC-USP - São Carlos/SP
  • Vagas: 27
  • Inscrições: de 10 de março a 27 de junho de 2016 (Vagas esgotadas*)
    *Para obter informações sobre lista de espera, envie um e-mail para selma_ga@yahoo.com.br
  • Investimento: minicurso gratuito

Método de Rietveld (MR)

É um método usado para refinamentos de estruturas cristalinas com dados de difração de raios X ou de nêutrons. Através dele pode-se obter, com precisão, parâmetros de cela unitária, posições atômicas, análise quantitativa de fases, estequiometria, além de interessantes estimativas de tamanho e forma de cristalito. Neste curso, serão abordados casos como análise quantitativa de fases incluindo determinação de amorfo, orientação preferencial, determinação da distribuição de cátions em um composto de estrutura tipo espinélio, cristalitos anisotrópicos com flutuação composicional, decomposição de um padrão usando os métodos de Le Bail ou de Pawley, decomposição de um padrão de difração através do ajuste de picos, etc.

Os tutoriais serão realizados com o Software Topas da Bruker, com licenças fornecidas temporariamente pela Bruker para os cursos.

  • Data: de 2 a 5 de maio de 2016
  • Carga horária: 32 horas
  • Local: Uniara - Araraquara/SP
  • Vagas: 27
  • Inscrições: de 10 de março a 25 de abril de 2016 (Inscrições abertas)
  • Investimento: R$ 150,00

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